Test Clock Input (TCK) 为TAP的操作提供一个独立的时钟信号
Test Mode Select(TMS) 测试模式选择， 在TCK的上升沿有效，用来控制TAP状态机的转换
Test Data Input (TDI) 是数据输入的接口。所有输入到特定寄存器的数据，都是通过TDI接口，一位一位串行输入的.
Test Data Output (TDO) 数据输出的接口。 所有要求从特定寄存器读出的数据，都是通过TDO接口串行输出的。

VTREF 接口参考电平，一般直接接在VSupply上。

Test Reset Input 测试复位输入。 TRST用来对TAP控制器复位。但是TMS也可以对TAP复位，所以这个管脚可以不要。

Return Test Clock (RTCK) 目标端反馈给emulator的时钟信号，用来通过TCK 信号的产生，不用时 接地。

System Reset (nSRST), 对目标系统复位。

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因为JTAG经常用排线连接，为了更好的抗干扰，就在每条线间，加了地线。